| 1 | تصویر دستگاه |  | ||
| 2 | نام دستگاه به فارسی | فلورسانس اشعه ایکس بر اساس طول موج | ||
| 3 | نام دستگاه به انگلیسی | Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (WDXRF) | ||
| 4 | مدل دستگاه | ZSX Primus IV | ||
| 5 | کمپانی سازنده | Rigaku | ||
| 6 | کشور سازنده | ژاپن | ||
| 7 | پردیس مربوطه | پردیس انرژی و محیط زیست | ||
| 8 | قابلیت های دستگاه (مجموعه آزمون های قابل انجام با دستگاه) | عنوان | تست متد | کلیدواژه (حد اقل 3 مورد) |
| شناسایی نیمه کمی عناصر موجود در نمونه جامد با استفاده از دستگاه WDXRF | WDXRF ، جامد، آنالیز عنصری، نیمه کمی | |||
| 9 | استاندارد 17025 | ندارد | ||
| 10 | اطلاعات تکمیلی | |||
منو
مهار تورم و رشد تولید
